1. Apakah prinsip pengukuran, kelebihan dan keburukan spektrometer nyahcas cahaya?
Prinsip: Ini adalah kaedah yang paling biasa digunakan dan berwibawa. Ia menggunakan nyahcas cahaya untuk membedil permukaan sampel dengan ion, bahan terpercik lapisan demi lapisan, sambil menganalisis secara serentak isyarat spektrum unsur bahan terpercik. Dengan menganalisis perubahan dalam isyarat ini dari semasa ke semasa, peta taburan kedalaman unsur dari permukaan ke substrat boleh diperoleh secara langsung.
Kelebihan:
Ia boleh secara langsung, cepat dan tepat mengukur ketebalan dan komposisi lapisan oksida.
Ia secara serentak boleh menganalisis struktur dan ketebalan keseluruhan salutan (termasuk lapisan zink tulen, lapisan aloi, dll.).
Kelemahan:
Peralatannya mahal dan memerlukan operasi profesional.
Ia adalah ujian yang merosakkan, meninggalkan lubang kecil pada sampel.
2. Apakah prinsip, kelebihan dan keburukan spektroskopi fotoelektron sinar-X-?
Prinsip: Dengan menyinari sampel dengan sinaran X-dan mengukur tenaga elektron teruja, keadaan unsur kimia bagi kawasan permukaan yang sangat nipis (beberapa nanometer) boleh dianalisis dengan tepat (cth, membezakan antara zink logam (Zn) dan zink oksida (ZnO)).
Kelebihan:
Sangat sensitif kepada lapisan oksida paling luar (beberapa nanometer tebal), memberikan maklumat keadaan kimia.
Kelemahan:
Kedalaman analisis yang sangat cetek, terutamanya menyasarkan lapisan paling luar.
Peralatannya sangat mahal, dan kelajuan analisis agak perlahan.
3.Apakah prinsip, kelebihan dan keburukan mikroskopi elektron pengimbasan/mikroskop elektron penghantaran?
Prinsip: Bahagian-rentas sampel disediakan, dan ketebalan filem oksida diperhatikan secara langsung dan diukur di bawah mikroskop elektron. Ini adalah kaedah yang paling intuitif.
Kelebihan: Hasilnya sangat intuitif, menunjukkan morfologi filem oksida.
Kelemahan: Penyediaan sampel adalah rumit dan-memakan masa, peralatannya mahal dan hanya kawasan setempat boleh diperhatikan.
4. Apakah prinsip, kelebihan, dan keburukan menggunakan tolok ketebalan magnet yang digabungkan dengan kaedah mengelupas?
Prinsip:
Pertama, ukur jumlah ketebalan gegelung tergalvani (termasuk filem oksida) menggunakan tolok ketebalan magnet standard.
Kemudian, gosok perlahan-lahan kawasan kecil dengan larutan berasid yang sangat lembut (seperti asid asetik yang dicairkan atau penyingkiran filem oksida khusus) untuk mengeluarkan hanya filem oksida permukaan tanpa merosakkan lapisan zink di bawahnya.
Ukur ketebalan kawasan yang sama sekali lagi menggunakan tolok ketebalan magnetik.
Perbezaan antara kedua-dua ukuran ialah ketebalan filem oksida.
Kelebihan:
Peralatan mudah (hanya tolok ketebalan salutan biasa dan reagen kimia diperlukan).
Agak pantas dan boleh dilakukan di-tapak.
Merosakkan sampel secara minimum (hanya titik lap kecil).
Kelemahan:
Kuncinya terletak pada "kakisan terpilih." Operasi memerlukan pengalaman; jika tidak, lapisan zink tulen mungkin terukir, membawa kepada keputusan yang tidak tepat.
Ia adalah ukuran tidak langsung, dengan ketepatan yang lebih rendah daripada kaedah makmal.
5. Apakah prinsip, kebaikan dan keburukan kaedah elektrokimia?
Prinsip: Dengan mengukur parameter elektrokimia seperti potensi litar-terbuka dan lengkung polarisasi sampel dalam elektrolit tertentu, ketumpatan dan sifat perlindungan filem oksida permukaan boleh dicerminkan secara tidak langsung. Filem oksida yang lebih tebal dan lebih lengkap menunjukkan potensi yang lebih positif dan impedans yang lebih tinggi.
Kelebihan: Boleh menilai sifat kefungsian (rintangan kakisan) filem oksida.
Kelemahan: Memerlukan peralatan dan kepakaran elektrokimia; keputusan dipengaruhi oleh pelbagai faktor dan tidak dapat memberikan ketebalan fizikal secara langsung.